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- 型号： DM74AS286MX
- 制造商： Fairchild Semiconductor
- 库位|库存： xxxx|xxxx
- 要求：
| 数量阶梯 | 香港交货 | 国内含税 |
| +xxxx | $xxxx | ￥xxxx |
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产品简介：
ICGOO电子元器件商城为您提供DM74AS286MX由Fairchild Semiconductor设计生产，在icgoo商城现货销售，并且可以通过原厂、代理商等渠道进行代购。 DM74AS286MX价格参考。Fairchild SemiconductorDM74AS286MX封装/规格：未分类， 暂无。您可以下载DM74AS286MX参考资料、Datasheet数据手册功能说明书，资料中有DM74AS286MX 详细功能的应用电路图电压和使用方法及教程。
DM74AS286MX 是安森美（ON Semiconductor）推出的一款高速TTL（AS系列）8位奇偶校验发生器/校验器。其主要应用场景集中在需要高可靠性数据完整性校验的数字系统中。 典型应用包括： - 计算机与通信系统中的数据总线校验：在早期微处理器系统（如8080、Z80等）或工业控制总线中，用于实时生成偶校验位或校验传输数据的奇偶一致性，防止单比特错误导致的误操作。 - 内存接口校验电路：配合RAM/ROM使用，对读写数据自动生成并验证奇偶位，提升存储子系统的容错能力（尤其在无ECC的简单系统中）。 - 工业PLC与嵌入式控制器：在抗干扰要求较高的工业环境中，作为低成本、确定性低延迟的硬件级错误检测模块，增强系统鲁棒性。 - 测试设备与逻辑分析仪：用于构建自检电路或协议分析中的数据完整性验证模块。 该器件支持“生成模式”（8输入+1输出偶校验位）和“校验模式”（9输入→1位校验结果），响应时间仅约10ns（典型值），适用于高速但无需复杂纠错（如ECC）的场景。尽管当前主流设计多采用集成化方案（如MCU内置校验或FPGA实现），DM74AS286MX仍在部分军工、航天（高辐射环境下的抗单粒子翻转备份方案）、及老旧设备维护/替代市场中持续应用。需注意其为双列直插封装（SOIC-14），属成熟但非最新工艺产品。
产品参数
图文手册
常见问题
| 参数 | 数值 |
| 产品目录 | 集成电路 (IC) |
| 描述 | IC 9-BIT GEN/CHKER 14SOIC |
| 产品分类 | 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 |
| 品牌 | Fairchild Semiconductor |
| 数据手册 | |
| 产品图片 |
|
| 产品型号 | DM74AS286MX |
| rohs | 无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
| 产品系列 | 74AS |
| 供应商器件封装 | 14-SOIC |
| 包装 | 带卷 （TR） |
| 安装类型 | 表面贴装 |
| 封装/外壳 | 14-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） |
| 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 标准包装 | 2,500 |
| 电压-电源 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 电流-输出高，低 | 15mA，48mA; 2mA，20mA |
| 电路数 | 9 位 |
| 逻辑类型 | 奇偶校验发生器/校验器 |
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