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产品简介:
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TPD4E1U06DCKEVM 是 Texas Instruments(德州仪器)推出的一款评估模块,主要用于评估 TPD4E1U06 低压、四通道 USB 2.0 静电放电(ESD)保护器件的性能。该评估板适用于工程师在设计阶段对 ESD 保护方案进行测试和验证。 其主要应用场景包括: 1. USB 接口保护设计验证:用于评估在 USB 2.0 接口应用中,TPD4E1U06 器件对静电放电的防护能力,确保设备在日常使用中免受静电损害。 2. 消费类电子产品开发:如智能手机、平板电脑、笔记本电脑等便携设备中 USB 接口的 ESD 保护方案评估。 3. 工业及通信设备测试:用于工业控制系统、通信模块等对可靠性要求较高的系统中,验证其接口在恶劣电磁环境中是否具备足够的抗静电能力。 4. 电路保护方案选型参考:帮助硬件工程师对比不同 ESD 保护器件的性能,选择最适合设计方案的元件。 该评估板简化了测试流程,便于用户快速评估器件在实际应用中的表现,提高产品设计的可靠性和稳定性。
| 参数 | 数值 |
| 产品目录 | 编程器,开发系统 |
| 描述 | EVAL MODULE FOR TPD4E1U06 |
| 产品分类 | 评估和演示板和套件 |
| 品牌 | Texas Instruments |
| 数据手册 | 点击此处下载产品Datasheethttp://www.ti.com/lit/pdf/slvu853 |
| 产品图片 | |
| 产品型号 | TPD4E1U06DCKEVM |
| rohs | 含铅 / 不符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
| 产品系列 | - |
| 主要属性 | - |
| 主要用途 | 电路保护,静电释放 (ESD) |
| 使用的IC/零件 | TPD4E1U06 |
| 嵌入式 | 否 |
| 所含物品 | 板 |
| 标准包装 | 1 |
| 辅助属性 | - |