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产品简介:
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SN74LS280DRE4是德州仪器(Texas Instruments)生产的一款TTL逻辑集成电路,属于奇偶校验发生器和校验器类别。该芯片可生成或检测9位数据(8位数据加1位奇偶位)的奇偶校验信息,支持奇校验和偶校验两种模式,广泛应用于需要数据完整性校验的数字系统中。 其典型应用场景包括:在早期计算机系统和工业控制设备中,用于内存、总线传输或I/O通信过程中对数据进行错误检测,防止因噪声或干扰导致的数据错误;在并行数据传输系统中,作为数据发送端的奇偶校验生成器或接收端的校验器,确保数据一致性;在通信接口电路中,辅助实现可靠的数据交换;此外,也常用于教学实验平台,帮助学生理解奇偶校验原理与TTL逻辑电路设计。 由于采用DIP或SOIC封装(具体以DRE4后缀为准,通常为SOIC),SN74LS280DRE4适合PCB表面贴装,具备良好的抗干扰能力和稳定的工作性能,适用于工业温度范围,可在较恶劣环境中可靠运行。尽管现代系统多采用更先进的CRC或ECC技术,但在一些低成本、低复杂度或维护原有设计的场合,该器件仍具实用价值。
| 参数 | 数值 |
| 产品目录 | 集成电路 (IC) |
| 描述 | IC 9-BIT GEN/CHKER 14SOIC |
| 产品分类 | 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 |
| 品牌 | Texas Instruments |
| 数据手册 | |
| 产品图片 |
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| 产品型号 | SN74LS280DRE4 |
| rohs | 无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
| 产品系列 | 74LS |
| 供应商器件封装 | 14-SOIC |
| 包装 | 带卷 (TR) |
| 安装类型 | 表面贴装 |
| 封装/外壳 | 14-SOIC(0.154",3.90mm 宽) |
| 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 标准包装 | 2,500 |
| 电压-电源 | 4.75 V ~ 5.25 V |
| 电流-输出高,低 | 400µA, 8mA |
| 电路数 | 9 位 |
| 逻辑类型 | 奇偶校验发生器/校验器 |