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- 型号： SN74AS286N
- 制造商： Texas Instruments
- 库位|库存： xxxx|xxxx
- 要求：
| 数量阶梯 | 香港交货 | 国内含税 |
| +xxxx | $xxxx | ￥xxxx |
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产品简介：
ICGOO电子元器件商城为您提供SN74AS286N由Texas Instruments设计生产，在icgoo商城现货销售，并且可以通过原厂、代理商等渠道进行代购。 SN74AS286N价格参考。Texas InstrumentsSN74AS286N封装/规格：未分类， 暂无。您可以下载SN74AS286N参考资料、Datasheet数据手册功能说明书，资料中有SN74AS286N 详细功能的应用电路图电压和使用方法及教程。
SN74AS286N 是德州仪器（TI）推出的高速双极型（AS系列）8位奇偶校验发生器/校验器，非“品牌为-”（应为TI品牌）。其核心功能是实时生成或校验8位并行数据的偶校验位（也可配置为奇校验），支持“发生器模式”（输入8位数据→输出8位+1位校验位）和“校验器模式”（输入8位数据+1位校验位→输出1位错误指示信号）。 典型应用场景包括： 1. 工业与通信系统中的数据完整性保障：在RS-422/485总线、PLC背板通信或老式并行接口中，对传输的8位字节附加校验位，接收端用SN74AS286N快速检测单比特错误； 2. 军事/航天嵌入式设备：在抗干扰要求高但无需复杂纠错（如ECC）的场景中，作为低成本、低延迟的硬件级错误检测单元； 3. 测试与诊断设备：ATE（自动测试设备）中用于验证数据通路可靠性，或FPGA/CPU外围逻辑中补充校验功能； 4. 遗留系统升级：替代老式TTL器件（如74LS286），利用其AS系列高速特性（典型传播延迟约9ns），提升传统8位总线系统的容错响应速度。 需注意：该芯片仅能检测单比特错误，无法定位或纠正；不适用于现代高速串行协议（如PCIe、USB），主要面向中低速、确定性要求高的并行数据链路。设计时需配合上拉/下拉电阻及稳定电源滤波以发挥其高速性能。
产品参数
图文手册
常见问题
| 参数 | 数值 |
| 产品目录 | 集成电路 (IC) |
| 描述 | IC 9-BIT GEN/CHKER 14DIP |
| 产品分类 | 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 |
| 品牌 | Texas Instruments |
| 数据手册 | |
| 产品图片 |
|
| 产品型号 | SN74AS286N |
| rohs | 无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
| 产品系列 | 74AS |
| 供应商器件封装 | 14-PDIP |
| 其它名称 | 296-6352-5 |
| 包装 | 管件 |
| 安装类型 | 通孔 |
| 封装/外壳 | 14-DIP（0.300"，7.62mm） |
| 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 标准包装 | 25 |
| 电压-电源 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 电流-输出高，低 | 15mA，48mA; 2mA，20mA |
| 电路数 | 9 位 |
| 逻辑类型 | 奇偶校验发生器/校验器 |
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