Datasheet下载- 型号： SCANSTA111SM
- 制造商： Texas Instruments
- 库位|库存： xxxx|xxxx
- 要求：
| 数量阶梯 | 香港交货 | 国内含税 |
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产品简介：
ICGOO电子元器件商城为您提供SCANSTA111SM由Texas Instruments设计生产，在icgoo商城现货销售，并且可以通过原厂、代理商等渠道进行代购。 SCANSTA111SM价格参考。Texas InstrumentsSCANSTA111SM封装/规格：未分类， 暂无。您可以下载SCANSTA111SM参考资料、Datasheet数据手册功能说明书，资料中有SCANSTA111SM 详细功能的应用电路图电压和使用方法及教程。
SCANSTA111SM 是德州仪器（Texas Instruments）推出的一款专用接口芯片，属于“接口 - 专用”类别。其核心功能是JTAG链路重构与多器件边界扫描测试管理，主要面向高可靠性、复杂PCB系统的生产测试与调试场景。 典型应用场景包括： ✅ 板级边界扫描测试（IEEE 1149.1）：在FPGA、ASIC、CPLD等高密度逻辑器件组成的系统中，通过SCANSTA111SM动态重构JTAG链，实现对多个独立JTAG链（如处理器子系统、FPGA子系统、电源管理单元等）的分时/并行访问，提升测试覆盖率和效率。 ✅ 嵌入式系统在线调试与编程：支持在不增加额外调试接口的前提下，复用JTAG链对多个目标器件进行固件烧录、寄存器读写或实时调试，适用于工业控制、通信基站、医疗设备等需现场维护的设备。 ✅ JTAG信号电平转换与驱动增强：集成电平转换（支持1.8V–3.3V）、强驱动能力及噪声抑制设计，适用于长走线、多负载的JTAG链路，确保信号完整性。 ✅ ATE（自动测试设备）与ICT（在线测试）系统中的桥接控制器：作为测试夹具与被测板之间的智能接口，简化测试治具设计，降低误测率。 该芯片不适用于通用数据通信或高速串行接口（如USB、PCIe），而是专为可测试性设计（DFT）和量产测试优化而生，广泛应用于通信、军工、航空航天及高端工业电子领域。
产品参数
图文手册
常见问题
| 参数 | 数值 |
| 产品目录 | 集成电路 (IC) |
| 描述 | IC SCAN BRIDGE MULTIDROP 49FBGA |
| 产品分类 | 接口 - 专用 |
| 品牌 | Texas Instruments |
| 数据手册 | |
| 产品图片 |
|
| 产品型号 | SCANSTA111SM |
| rohs | 含铅 / 不符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
| 产品系列 | - |
| 供应商器件封装 | 49-BGA（7x7） |
| 包装 | 托盘 |
| 安装类型 | 表面贴装 |
| 封装/外壳 | 49-LFBGA |
| 应用 | 测试设备 |
| 接口 | IEEE 1149.1 |
| 标准包装 | 416 |
| 电压-电源 | 3 V ~ 3.6 V |
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