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74ACT11286DR产品简介:
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74ACT11286DR 是德州仪器(Texas Instruments)推出的高速CMOS奇偶校验发生器/校验器,属于74ACT逻辑系列,支持±24mA驱动能力、5V供电、典型传播延迟约6ns。其核心功能是为9位数据(8位数据+1位奇偶位)生成或校验偶校验位,常用于需要简单、可靠数据完整性验证的中低速数字系统。 典型应用场景包括: - 工业控制总线接口:在PLC、I/O模块中对并行数据总线(如8位数据线+1位校验线)进行实时偶校验,提升抗干扰能力; - 老式通信协议适配:配合UART、并行打印机接口(如Centronics)等使用偶校验机制的设备,实现硬件级校验,减轻MCU负担; - 嵌入式系统内存/寄存器校验:用于SRAM、配置寄存器等小规模关键数据路径的偶校验生成与检测,增强系统鲁棒性; - 测试与诊断电路:在ATE(自动测试设备)或FPGA/CPLD开发板上,作为独立校验单元验证数据通路完整性; - 教育及原型设计:因接口简洁(9位输入、1位校验输出+1位错误标志输出)、时序明确,广泛用于数字逻辑教学与基础容错设计实验。 需注意:该器件不适用于高速串行协议(如USB、PCIe)或需纠错(ECC)的场景,亦非现代高集成SoC的首选——但在强调确定性、低功耗、硬件级校验且无需软件干预的工业与嵌入式边缘节点中,仍具实用价值。
| 参数 | 数值 |
| 产品目录 | 集成电路 (IC) |
| 描述 | IC 9-BIT GEN/CHKER 14SOIC |
| 产品分类 | |
| 品牌 | Texas Instruments |
| 数据手册 | |
| 产品图片 |
|
| 产品型号 | 74ACT11286DR |
| rohs | 无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
| 产品系列 | 74ACT |
| 供应商器件封装 | 14-SOIC |
| 其它名称 | 296-4196-1 |
| 包装 | 剪切带 (CT) |
| 安装类型 | 表面贴装 |
| 封装/外壳 | 14-SOIC(0.154",3.90mm 宽) |
| 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 标准包装 | 1 |
| 电压-电源 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 电流-输出高,低 | 24mA,24mA |
| 电路数 | 9 位 |
| 逻辑类型 | 奇偶校验发生器/校验器 |