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详细数据请看参考数据手册
- 型号： MDEV-LICAL-HS-ES
- 制造商： LINX TECHNOLOGIES
- 库位|库存： xxxx|xxxx
- 要求：
| 数量阶梯 | 香港交货 | 国内含税 |
| +xxxx | $xxxx | ￥xxxx |
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产品简介：
ICGOO电子元器件商城为您提供MDEV-LICAL-HS-ES由LINX TECHNOLOGIES设计生产，在icgoo商城现货销售，并且可以通过原厂、代理商等渠道进行代购。 MDEV-LICAL-HS-ES价格参考。LINX TECHNOLOGIESMDEV-LICAL-HS-ES封装/规格：未分类， 暂无。您可以下载MDEV-LICAL-HS-ES参考资料、Datasheet数据手册功能说明书，资料中有MDEV-LICAL-HS-ES 详细功能的应用电路图电压和使用方法及教程。
MDEV-LICAL-HS-ES 是一款面向射频（RF）校准与评估的高性能开发板，专为高精度射频前端（如LNA、PA、开关、天线调谐器等）的快速验证与调试设计。其核心应用场景包括： 1. 芯片级射频性能验证：配合测试仪器（如VNA、信号源、频谱仪），用于评估射频IC在真实电路环境下的S参数、增益、噪声系数、线性度（ACPR/OIP3）及阻抗匹配特性； 2. 模块化校准参考平台：内置高稳定性校准件（如开路/短路/负载/直通标准件）和精密射频开关矩阵，支持TRL/LRM等校准算法，可作为产线或实验室的本地化校准基准； 3. 高速射频接口兼容性测试：支持高达40 GHz的宽频带（典型覆盖DC–40 GHz），适用于5G毫米波、Wi-Fi 6E/7、雷达（77/79 GHz频段预兼容）、卫星通信等高频应用的信号完整性与互连性能评估； 4. ESD/EMI鲁棒性开发辅助：板载ESD保护监测点与屏蔽结构，便于开展射频电路抗静电放电及电磁干扰敏感度的早期摸底测试； 5. 算法原型验证：为数字预失真（DPD）、自适应调谐、智能天线等射频算法提供低延迟、高保真模拟前端数据采集与反馈通路。 该开发板强调“即插即测”能力，支持主流测试软件（如Keysight PathWave、NI AWR），适用于芯片原厂、模组厂商及通信设备研发团队的射频开发全流程——从器件选型、PCB布局优化到量产校准方案落地。
产品参数
图文手册
常见问题
| 参数 | 数值 |
| 产品目录 | 射频/IF 和 RFID |
| 描述 | KIT MASTER DEV HS ES RF MODULES |
| 产品分类 | RF 评估和开发套件，板 |
| 数据手册 | |
| 产品图片 |
|
| rohs | 无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
| 产品系列 | - |
| 其它名称 | MDEVLICALHSES |
| 所含物品 | 2 个板，2 个编码器，2 个解码器，2 根天线 |
| 标准包装 | 1 |
| 类型 | 编码器，解码器 |
| 软件下载 | http://www.linxtechnologies.com/resources/software/mdev-lical-hs_application_software.zip |
| 配套使用产品/相关产品 | Linx OEM 模块 |
| 频率 | - |
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