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型号： CLT-125-02-F-D-BE-P
制造商： SAMTEC
库位|库存： xxxx|xxxx
要求：无整包装整卷装连续切割带批次不详

数量阶梯	香港交货	国内含税
+xxxx	$xxxx	￥xxxx

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产品简介：

ICGOO电子元器件商城为您提供CLT-125-02-F-D-BE-P由SAMTEC设计生产，在icgoo商城现货销售，并且可以通过原厂、代理商等渠道进行代购。 CLT-125-02-F-D-BE-P价格参考。SAMTECCLT-125-02-F-D-BE-P封装/规格：未分类，暂无。您可以下载CLT-125-02-F-D-BE-P参考资料、Datasheet数据手册功能说明书，资料中有CLT-125-02-F-D-BE-P 详细功能的应用电路图电压和使用方法及教程。

Samtec Inc. 的 CLT-125-02-F-D-BE-P 是一款高密度、表面贴装（SMT）型矩形连接器母座（插座），属于其CLT系列——超薄、低侧高（0.8 mm）、带弹簧针接触系统的板对板连接器。该型号适用于空间受限、高频高速且需可靠插拔的精密电子系统。

典型应用场景包括：  
- 消费电子：智能手机、平板电脑、可穿戴设备（如智能手表、TWS耳机）中主板与模组（摄像头、显示屏、电池管理板）之间的紧凑型板对板互连；  
- 通信设备：5G小基站、光模块（QSFP/SFP+）内部PCB堆叠或子卡连接，利用其0.5 mm间距和优异信号完整性支持高速差分信号传输；  
- 医疗电子：便携式监护仪、内窥镜成像模块等对厚度敏感、需长期稳定接触的微型化设备；  
- 工业与汽车电子：ADAS传感器（如毫米波雷达、摄像头ECU）的紧凑型模块化设计，BE后缀表示带焊料掩膜（Solder Mask Defined Pad）和增强型引脚（Enhanced Pin），提升焊接可靠性与抗振性；  
- 测试与自动化：ATE（自动测试设备）探针卡或功能测试夹具中，作为可插拔接口实现快速更换被测板（DUT）。

其F（Front-mount）、D（Dual-row）、P（Plated）等后缀表明为前装双排镀金触点结构，配合弹簧探针设计，提供优异的机械寿命（≥500次插拔）与电气性能（支持高达16 Gbps数据速率），特别适合高振动、小尺寸、高可靠性要求的嵌入式互连场景。

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